Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, PLD process, buffer layers, microstructure, thickness dependence, stability, critical temperature, grain size
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.